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材料研究 材料研究

材料研究

細心于半導體芯片電耐熱性測試方法

源表搭建鈣鈦礦太陽能電池測試方案

源頭:admin 時間段:2022-08-30 09:01 預覽量:9914

一、例案的項目間介


1.項目背景

鈣(gai)鈦(tai)礦型(xing)日(ri)頭(tou)能(neng)(neng)電芯(xin)(perovskite solar cells),是進行鈣(gai)鈦(tai)礦型(xing)的生產金屬(shu)鹵化(hua)物半(ban)導(dao)作(zuo)為一個吸光資料的日(ri)頭(tou)能(neng)(neng)電芯(xin),應(ying)歸第三(san)點代日(ri)頭(tou)能(neng)(neng)電芯(xin),也稱為新產品概念日(ri)頭(tou)能(neng)(neng)電芯(xin)。

2.項目挑戰

   老式電子過載加萬(wan)用表測(ce)量的工作效率不強(qiang);

   國(guo)外源表的工具搭配設計規劃不更加完(wan)善。

二、鈣鈦礦食材概述


1.鈣鈦礦材料種類

鈣鈦(tai)礦晶胞為(wei)ABX3 構(gou)成,通常(chang)情況下為(wei)萬立方體或八面(mian)體構(gou)成。

在鈣(gai)鈦(tai)礦晶狀體中,B陰(yin)鐵(tie)離(li)子(zi)(zi)屬于萬立(li)米晶胞的咨(zi)詢中心,被6個X陰(yin)鐵(tie)離(li)子(zi)(zi)圍(wei)住成配(pei)位萬立(li)米八(ba)面體,配(pei)十位數為(wei)6;

A亞鐵(tie)(tie)(tie)(tie)(tie)鋁(lv)鋁(lv)鐵(tie)(tie)(tie)(tie)(tie)離(li)子靠近(jin)立米晶胞的角(jiao)頂,被1多個X亞鐵(tie)(tie)(tie)(tie)(tie)鋁(lv)鋁(lv)鐵(tie)(tie)(tie)(tie)(tie)離(li)子圍攻成配位八面體,配數字(zi)為12,長為 隨時(shi),其(qi)中的,A亞鐵(tie)(tie)(tie)(tie)(tie)鋁(lv)鋁(lv)鐵(tie)(tie)(tie)(tie)(tie)離(li)子和(he)X亞鐵(tie)(tie)(tie)(tie)(tie)鋁(lv)鋁(lv)鐵(tie)(tie)(tie)(tie)(tie)離(li)子球半(ban)徑相(xiang)仿,同(tong)樣組(zu)合而成立米密沉積。



2.鈣鈦礦太陽能電池的結構與原理


(1)鈣鈦礦電池組格局與原因

典型鈣鈦礦電池結構.jpg



在接手日頭光照(zhao)曬時,鈣鈦(tai)礦(kuang)(kuang)層(ceng)(ceng)最先汲取電(dian)商(shang)(shang)束生(sheng)(sheng)成(cheng)電(dian)商(shang)(shang)-空(kong)穴對。而且這(zhe)(zhe)樣鈣鈦(tai)礦(kuang)(kuang)建筑(zhu)材料(liao)往往會還具有較低的(de)載(zai)流(liu)子黏結(jie)可能性 和較高的(de)載(zai)流(liu)子轉移(yi)率,因(yin)而載(zai)流(liu)子的(de)擴散轉移(yi)長度(du)和生(sheng)(sheng)命(ming)較長。這(zhe)(zhe)樣未黏結(jie)的(de)電(dian)商(shang)(shang)和空(kong)穴對應被(bei)電(dian)商(shang)(shang)互(hu)傳(chuan)(chuan)(chuan)層(ceng)(ceng)和空(kong)穴互(hu)傳(chuan)(chuan)(chuan)層(ceng)(ceng)征(zheng)集,即電(dian)商(shang)(shang)從(cong)(cong)鈣鈦(tai)礦(kuang)(kuang)層(ceng)(ceng)互(hu)傳(chuan)(chuan)(chuan)到等電(dian)商(shang)(shang)互(hu)傳(chuan)(chuan)(chuan)層(ceng)(ceng),另外被(bei)ITO(導電(dian)窗戶玻璃板參(can)比(bi)探(tan)針材料(liao)Indium-tin oxide)征(zheng)集;空(kong)穴從(cong)(cong)鈣鈦(tai)礦(kuang)(kuang)層(ceng)(ceng)互(hu)傳(chuan)(chuan)(chuan)到空(kong)穴互(hu)傳(chuan)(chuan)(chuan)層(ceng)(ceng),另外被(bei)重合金金屬參(can)比(bi)探(tan)針材料(liao)征(zheng)集,能夠連入FTO(導電(dian)窗戶玻璃板、Fluorine-doped tin oxide)和重合金金屬參(can)比(bi)探(tan)針材料(liao)的(de)電(dian)源線路而生(sheng)(sheng)成(cheng)光學(xue)流(liu)。

(2)鈣鈦礦蓄電池設計流程

0.jpg

(3)關鍵生產設備鈣鈦礦充電片

成品鈣鈦礦電池.jpg


三、方案設計闡明


1.測試要求


(1)IV體統


側量下重點指標:

串入(ru)端(duan)電壓Uoc(Open Circuit Voltage);

燒壞功率Isc(Short-circuit Current);

頂值電壓電流Um;

頂值電流值Im;

閥(fa)值工率Pm=UmXIm;

選中分子FF;

轉化利(li)用率(lv)?=Pm(手機電(dian)池箱(xiang)片(pian)基線輸出(chu)輸出(chu)功率(lv))XPin(部(bu)門規模入射的光(guang)輸出(chu)輸出(chu)功率(lv))/S(手機電(dian)池箱(xiang)片(pian)的規模)

……


(2)QE平臺


量測如(ru)下重點參數(shu)設置:

光譜分析異常度;

外量子工作效率;

內量子使用率;

折射率;

散射率;

兌換(huan)積(ji)分(fen)不導通(tong)直流(liu)電壓孔(kong)隙率;

點光誘惑感應電流

……

2.測試所需儀表

AAA級日頭光虛擬(ni)仿真器;

標淮多(duo)晶硅(gui)硅(gui)日電池組(zu)(國內 檢定探析院校(xiao)準);

普賽(sai)斯S300源表;

印(yin)刷(shua)品檢測器臺還制定卡具;

IV測試儀講(jiang)解軟件(jian)下載;

3.典型測試指標

典型測試指標.jpg


4.選型依據

電(dian)壓(ya)電(dian)流(liu)(liu)電(dian)壓(ya)分度值及表面粗(cu)糙(cao)度;電(dian)壓(ya)電(dian)流(liu)(liu)分度值及表面粗(cu)糙(cao)度;

取樣傳送速度高;IV測試測試定(ding)量分(fen)析手機(ji)app能力;


四、常見技術問題匯總FQA


1. 與傳統電子負載和萬用表測量方案的區別?

源(yuan)表集合(he)源(yuan)與表于分(fen)離式(shi),集合(he)性好(hao),從(cong)硬件配置出來(lai)說接口(kou)方(fang)式(shi)規(gui)定的,有RS232、GPIB和(he)LAN口(kou),更適(shi) 合(he)檢(jian)(jian)測(ce)室和(he)自己化檢(jian)(jian)測(ce)線的應運。從(cong)應用(yong)出來(lai)說,電腦指(zhi)令集的規(gui)定的化程性好(hao),串(chuan)口(kou)通信應用(yong)發掘最易。

2.與進口源表相比有哪些優勢?

普賽(sai)斯的S系(xi)例(li)源表截然競品吉時利(li)(li)2400,可(ke)自(zi)動測量相電壓(ya)和(he)感應電流范疇更寬。軟件上既帶來(lai)了匯編指令 集(ji),還可(ke)以C++和(he)Labview的SDK包,更利(li)(li)于(yu)檢測設計的融(rong)合。

3.普賽斯源表可以應用于鈣鈦礦哪些測試領域?

普賽斯的S編源表會(hui)APP于(yu)科研工作、課堂的進行實驗整體,也會(hui)APP于(yu)產線智能化測試英文(wen)。



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